В наличии
Ceyear

4052F Анализатор спектра и сигналов Ceyear 4052F

Артикул MTMT-013285
Мин. частота, кГц0.002
Макс. частота, МГц40000
ИнтерфейсыUSB, LAN, GPIB
Фазовый шум-122
Диагональ дисплея, дюйм11.6
Цена прибора Цена по запросу Под заказ
Подобрать аналог → Нужна консультация? Поможем подобрать →
✓ Официальная поставка✓ Гарантия и документы✓ Поставка для юрлиц
О товаре

4052F Анализатор спектра и сигналов Ceyear 4052F

Ceyear 4052F — анализатор спектра и сигналов серии Ceyear 4052, разработанный для экспертного контроля и прецизионного анализа в микроволновом и миллиметровом диапазонах частот до 40 ГГц. Прибор охватывает полосы Ku-, K- и Ka-диапазонов и применяется при тестировании устройств высокоскоростной спутниковой связи, радиолокационных систем и компонентов миллиметрового диапазона волн, включая перспективные технологии 5G/6G.

  • Диапазон частот: 2 Гц – 40 ГГц
  • DANL (уровень собственных шумов): до -167 дБм/Гц при 1 ГГц (с опциональным предусилителем)
  • Фазовый шум: -122 дБн/Гц (при отстройке 10 кГц от несущей 1 ГГц)
  • Полоса анализа: 10 МГц, опциональное расширение до 1,2 ГГц (опция H38-1200), режим VSA
  • Поддержка опции Real-Time Spectrum Analysis (RTSA)
  • Дисплей: 11,6-дюймовый мультисенсорный LCD-экран
  • Интерфейсы: USB, LAN, GPIB
  • Габариты (ВхШхГ): 42,6х45х17 см; вес: 25 кг

Области применения: спутниковая связь и телекоммуникации, радиолокация, исследование миллиметрового диапазона, метрология и оборона, включая измерение нелинейных характеристик (TOI) и коэффициента шума (NF).

Технические данные

Характеристики 4052F Анализатор спектра и сигналов Ceyear 4052F

Мин. частота, кГц0.002
Макс. частота, МГц40000
ИнтерфейсыUSB, LAN, GPIB
Фазовый шум-122
Диагональ дисплея, дюйм11.6
Вес, кг25
Габариты42,6х45х17
В комплекте

Комплектация 4052F Анализатор спектра и сигналов Ceyear 4052F

  • Ceyear 4052F — основной блок анализатора спектра и сигналов
  • Сетевой кабель питания
  • Полный комплект технической документации и руководство пользователя
  • Интерфейсные кабели (LAN, USB) для интеграции в автоматизированные измерительные системы